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Advances in X-Ray Analysis

Autor
Herausgegeben von John V. Gilfrich, Herausgegeben von Ting C. Huang, Herausgegeben von C.R. Hubbard, Herausgegeben von M.R. James, Herausgegeben von Ron Jenkins, Herausgegeben von G.R. Lachance, Herausgegeben von Deane K. Smith

Advances in X-Ray Analysis

Untertitel
Volume 36
Verlag
Springer US
ISBN/EAN
978-1-4613-6293-7
Preis
53,49 EUR
Status
lieferbar