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- Autor
- Herausgegeben von John V. Gilfrich, Herausgegeben von Ting C. Huang, Herausgegeben von C.R. Hubbard, Herausgegeben von M.R. James, Herausgegeben von Ron Jenkins, Herausgegeben von G.R. Lachance, Herausgegeben von Deane K. Smith
Advances in X-Ray Analysis
- Untertitel
- Volume 36
- Verlag
- Springer US
- ISBN/EAN
- 978-1-4613-6293-7
- Preis
- 53,49 EUR
- Status
- lieferbar